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極不均勻電場(chǎng)的擊穿：極不均勻場(chǎng)擊穿電壓的特點(diǎn)：電場(chǎng)不均勻程度對(duì)擊穿電壓的影響減弱(由于電場(chǎng)已經(jīng)極不均勻)，極間距離對(duì)擊穿電壓的影響增大。這個(gè)結(jié)果有很大意義，可以選擇電場(chǎng)極不均勻的情況，棒-板和棒-棒作為典型電極結(jié)構(gòu)(或尖-板和尖-尖電極結(jié)構(gòu)...
抗電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)的維護(hù)與保養(yǎng)是確保設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行和測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。首先需定期清潔設(shè)備內(nèi)外表面及測(cè)試區(qū)域，使用無塵布清除電極表面的殘留物或碳化物，避免污漬或氧化影響電場(chǎng)分布。其次，檢查高壓電極的平整度與對(duì)中情況，若發(fā)現(xiàn)磨損或變形需...
高頻Q表介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn)詳細(xì)介紹一、高頻Q表介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)機(jī)核心測(cè)量技術(shù)1.雙模式掃描系統(tǒng)雙掃描技術(shù)：支持測(cè)試頻率與調(diào)諧電容的同步掃描，配備自動(dòng)調(diào)諧搜索功能雙要素輸入：數(shù)字鍵盤直接輸入測(cè)試頻率（Hz）和調(diào)諧電容值（pF）...
高頻Q表采用雙模態(tài)智能測(cè)量體系，以DDS數(shù)字直接合成信號(hào)源為核心（頻率精度±0.1ppm，諧波失真＜-60dBc），搭載雙掃描協(xié)同調(diào)諧技術(shù)實(shí)現(xiàn)頻率（1kHz-70MHz）與電容（1pF-25nF）的同步數(shù)字化精準(zhǔn)匹配，結(jié)合計(jì)算...
絕緣油介電強(qiáng)度測(cè)試儀測(cè)試過程分析及質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)一、測(cè)試過程分析1.測(cè)試前預(yù)處理試樣需在密閉容器中靜置24±0.5小時(shí)以消除氣泡，環(huán)境溫度控制在（25±5）℃范圍內(nèi)。采用真空濾油裝置進(jìn)行脫氣處理，殘余氣體含量應(yīng)＜0...
耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀的維護(hù)保養(yǎng)與測(cè)量技術(shù)分析一、設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)要點(diǎn)耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀作為高壓電氣性能測(cè)試的核心設(shè)備，其維護(hù)保養(yǎng)需遵循系統(tǒng)性原則：1.日常維護(hù)-環(huán)境控制：實(shí)驗(yàn)室需保持溫度（23±5℃）、濕度（≤75%RH）穩(wěn)定...
交直流耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)測(cè)量精度控制方法測(cè)量精度控制需從系統(tǒng)溯源、環(huán)境補(bǔ)償、硬件優(yōu)化及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)化四個(gè)維度協(xié)同實(shí)現(xiàn)。依據(jù)IEC60243標(biāo)準(zhǔn)要求，綜合擴(kuò)展不確定度應(yīng)控制在≤1.5%（k=2），需執(zhí)行以下核心措施：1.量值溯源體系建立采用三級(jí)...
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